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超快I-V半导体特性分析的要点、技巧和陷阱

2012年05月29日 10:00  

本期研讨会旨在帮助实验室工程师实现、排除故障和验证脉冲I-V、瞬态I-V和通用超快I-V测量系统。研讨会还介绍了做好测量的要点。探讨的话题包括系统设置、测量极限的典型值和从真实器件得出的测量结果。... 【详细】

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